一句话结论
器件的损耗模型对参数非常敏感:Rds(on) 差 30%、Qrr 差一倍,效率与结温的结论就可能反转。
常见的三个坑
- 只看典型值:Rds(on) 在 100°C 时可能是 25°C 的 1.5~1.8 倍,SiC 也有温漂
- 忽略反向恢复:Si 快恢复管的 Qrr 在高频硬开关下会贡献可观损耗;SiC 肖特基基本没有
- 拿二极管顶替同步整流:SR 管的整流损耗要用它自己的 Rds(on) 算,用二极管 rd 会低估
我们怎么处理
本站的设计引擎把器件参数做成带来源的库:每条数据可以标「已按厂商文档核对」
「部分核对」或「种子估算」,报告里会逐条列出本次设计用到的条目属于哪一档。
未核对的参数不会被包装成实测值——结论的可信度取决于输入数据的可信度。
选型时建议:先用工具跑出量级与趋势,再用厂商 datasheet 的实测曲线复核关键器件。